Systemes de mesure : T-Systems

T-Waves Technologies propose des systèmes destinés à la mesure de signaux térahertz dans la plage de fréquences entre 0.1 Thz et 10 THz suivant 1,2 ou 3 dimensions dans l’espace.

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Ils peuvent comprendre la totalité ou une partie des éléments du système : source d’émission, capteur de mesure, composants opto-mécaniques, tables de translation, le modulateur optique, logiciel de monitoring…
Un amplificateur de type « lock-in » peut être utilisé pour réaliser un principe de détection synchrone afin d’augmenter le rapport signal sur bruit.
Cet amplificateur peut être externe au système et du type analogique ou intégré et du type numérique.

ci-dessous le schéma de configuration avec un amplificateur « lock-in » externe :

D’un point de vue optique, il existe plusieurs configurations possibles en fonction de la problématique posée.
Les modes « réflexion » et « transmission » sont représentés dans les diagrammes ci-après :

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Mode réflexion                                                                 Mode transmission

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Le logiciel d’exploitation T-Viewer I3D permet le pilotage de la configuration complète incluant le capteur ponctuel, les tables de translation 2D/3D, le modulateur optique asservi, l’amplificateur « lock-in » externe ou interne. Dans ce cas, la mesure du signal terahertz est réalisée avec un rapport signal sur bruit élevé.

Le logiciel T-Viewer I3D pilote :

–    la translation linéaire de chaque platine en fonction du pas et de la longueur de course sélectionnés par l’utilisateur (manuel ou auto)
–    la synchronisation de l’ensemble et la fonction intégrée « lock-in » numérique (si l’option est choisie)
–    la formation des images 2D ou profils 1D sur la base d’une acquisition point à point
–    la formation des images 3D à partir de plusieurs images 2D acquises à différentes valeurs de z
–    l’enregistrement des fichiers point, profil ou images avec les paramètres de configuration de mesure

Ci-après est représentée une vue graphique principale de l’interface utilisateur dans le cas d’un système à deux axes XY :

 

Applications :

• systèmes de mesure ponctuelle térahertz
• systèmes d’imagerie térahertz 2D/3D
• systèmes d’imagerie térahertz 2D polarimétrique
• bancs de caractérisation de sources térahertz XYZ,θ
• systèmes d’imagerie terahertz multi-spectrale
• systèmes de spectroscopie térahertz